場發(fā)射掃描電鏡（FESEM）是一種電子顯微鏡，具有超高分辨率，可以用于觀察各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象，還可以進行圖像處理。
FESEM具有以下優(yōu)勢：
1、表面形貌觀察：FESEM可以提供高分辨率的表面形貌觀察，使科學家能夠詳細地研究材料的表面結構和形貌，包括材料的顆粒大小、形狀、表面缺陷等。這對于研究材料的性能、制備工藝和下游應用等都非常有幫助。
2、成分分析：FESEM的二次電子成像原理不僅可以提供高分辨率的表面形貌圖像，還可以提供元素分布信息。這使得科學家能夠對材料的成分進行分析，進而研究材料中不同元素之間的相互作用和分布。
3、微觀結構分析：FESEM可以提供高分辨率的圖像，使科學家能夠觀察材料的微觀結構，包括材料的晶體結構、相組成、織構等。這對于材料性能的研究以及新型材料的設計和開發(fā)都非常有幫助。
4、快速實時成像：FESEM可以快速地對材料表面進行掃描和成像，而且可以實時地觀察材料的制備或加工過程。這使得科學家能夠快速地評估材料的性能和工藝參數(shù)，進而優(yōu)化材料的制備或加工工藝。
5、與其他技術結合使用：FESEM可以與其他技術結合使用，如X射線衍射、能譜儀等。這使得科學家能夠對材料進行更全面的分析，從而獲得更深入的認識和理解。
FESEM可應用于金屬及合金、斷口、焊點、拋光斷面、磁性及超導材料、陶瓷、復合材料、塑料、薄膜/涂層、地質樣品斷面、礦物、軟材料等多個領域。
